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HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設(shè)備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補 償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結(jié)果準確可靠。

MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀ITC57300 ITC57300是美國ITC公司設(shè)計生產(chǎn)的高集成度功率半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測試架構(gòu)，可以滿足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項動態(tài)參數(shù)的測試要求，且具有波形實時顯示分析功能，是目前具水平的完備可靠的動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備。

大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1200A-MT 華科智源IGBT電參數(shù)測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測試，廣泛應(yīng)用于軌道交通，電動汽車，風力發(fā)電，焊機行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。測試過程簡單，既可以在測試主機里設(shè)置參數(shù)直接測試，又可以通過軟件控制主機編程后進行自動測試。

IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 該設(shè)備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態(tài)參數(shù)測試，以表征器件的動態(tài)特性，通過特制測試夾具的連接，實現(xiàn)模塊的動態(tài)參數(shù)測試 品牌： 華科智源 名稱： 雙脈沖測試平臺 用途： 測試動態(tài)參數(shù)

IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)用于器件設(shè)計，封裝測試，軌道交通，電動汽車 ，風力發(fā)電，變頻器，焊機等行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。

博達微FS-Pro半導體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設(shè)備，在一個系統(tǒng)中實現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖式 IV 測試、任意線性波形發(fā)生與測量、高速時域信號釆集以及低頻噪聲測試能力。

吉時利全自動半導體參數(shù)分析儀4200A-SCS參數(shù)分析儀加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能電學特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試(I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試(C-V曲線測試)和超快脈沖I-V曲線測量。

LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態(tài)測試系統(tǒng)是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計、PCB設(shè)計等需要的場合。特別對于應(yīng)用第三代半導體的需要，有著較高的系統(tǒng)帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數(shù)。