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高溫反偏試驗(yàn)系統(tǒng)老化篩選臺 試驗(yàn)系統(tǒng)能滿足各種封裝形式的二極管、三極管、場效應(yīng)管、可控硅等分立器件的高溫反偏壽命試驗(yàn)(HTRB)、高溫漏電流測試(HTIR)、老煉篩選。

汽車電容高溫老化試驗(yàn)箱是汽車電容器高溫老煉篩選的專用系統(tǒng)，該系統(tǒng)采用Labview 自主開發(fā)的上位機(jī)控制系統(tǒng)，通過上位機(jī)進(jìn)行總控溫箱、電源、采集器和切換裝置，集中監(jiān)測和控制產(chǎn)品的老化過程，篩選出老煉過程中的不合格產(chǎn)品。搭配顯示器，上位機(jī)界面可實(shí)時(shí)顯示每個(gè)工位的狀態(tài)，并有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和管理等功能。

傳感器在線監(jiān)測老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)系統(tǒng)對傳感器進(jìn)行高溫老化，檢測輸出的模擬量信號或數(shù)字信號。

集成電路高溫老化箱可對各種封裝形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模擬電路、數(shù)字電路、光電耦合器等施加單一信號源信號進(jìn)行高溫工作壽命試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)老煉篩選。

單根線燃燒試驗(yàn)儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T18380.11、GB/T18380.12、GB/T18380.13、IEC60332-1-1、IEC60332-1-2、IEC60332-1-3以及客戶定制要求設(shè)計(jì)制作，用于對單根電線電纜或光纜產(chǎn)品進(jìn)行垂直燃燒試驗(yàn)，測定其絕緣材料的燃燒特性。

日曬色牢度試驗(yàn)箱Q-SUN Xe-2美國Q-LABQ-SUN Xe-2日曬色牢度試驗(yàn)箱易于安裝，操作簡便并易于維護(hù)。設(shè)計(jì)的樣品架使得樣品安裝更簡單。全自動(dòng)Xe-2日曬色牢度試驗(yàn)箱可以連續(xù)運(yùn)行24小時(shí)/天，7天/周，其他功能包括： - 全自動(dòng)輻照強(qiáng)度控制， - 全自動(dòng)輻照度校正，無需使用標(biāo)準(zhǔn)燈管，無需人工校正

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