最真實(shí)的信號(hào)呈現(xiàn)

SigOFIT光隔離探頭具有高的共模抑制比，在100MHz時(shí)CMRR高達(dá)112dB、在500MHz時(shí)CMRR仍然高達(dá)100dB，是判定其他電壓探頭所測信號(hào)真實(shí)性的裁判。

SigOFIT光隔離探頭MOIP350P測試精度

作為判定其他電壓探頭所測信號(hào)真實(shí)性的裁判，測試精度是SigOFIT光隔離探頭的重要指標(biāo)。SigOFIT光隔離探頭，具有幅頻特性，直流增益精度優(yōu)于1%，全量程范圍內(nèi)最大1.41mVrms底噪，預(yù)熱后零點(diǎn)漂移小于500μV。 

第三代半導(dǎo)體的最佳測試手段

第三代半導(dǎo)體器件由于導(dǎo)通與關(guān)斷時(shí)間很短，信號(hào)具有更快的上升沿和下降沿，信號(hào)中具有很高能量的高頻諧波，SigOFIT光隔離探頭在最高帶寬時(shí)，仍然具有近100dB的共模抑制比，可以近乎地抑制高頻共模噪聲所產(chǎn)生的震蕩，所呈現(xiàn)的信號(hào)沒有額外多余成分，是第三代半導(dǎo)體測試

測試氮化鎵（GaN）不炸管

SigOFIT光隔離探頭測試引線短且采用同軸傳輸，探頭輸入電容小于3pF，測試氮化鎵（GaN）十分安全。

使用靈活

SigOFIT光隔離探頭比傳統(tǒng)高壓差分探頭體積更小，探頭引線更精巧，使用更加靈活方便。

測試量程更寬

不同于高壓差分探頭只可以測試高壓信號(hào)，SigOFIT光隔離探頭通過匹配不同的衰減器，可以測試±1.25V至±2500V的差模信號(hào)，并實(shí)現(xiàn)滿量程輸出，達(dá)到很高的信噪比。

高效便捷

SigOFIT光隔離探頭響應(yīng)快，上電即測，校準(zhǔn)時(shí)間小于1秒，可實(shí)時(shí)保證精確的信號(hào)輸出。

應(yīng)用場景

對(duì)其他電壓探頭所測結(jié)果準(zhǔn)確性、真實(shí)性存在質(zhì)疑時(shí)，SigOFIT光隔離探頭可作為最終裁判依據(jù)。

電源設(shè)備評(píng)估、電流并聯(lián)測量、EMI 和 ESD 故障排除

電機(jī)驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)、功率轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì) 、電子鎮(zhèn)流器設(shè)計(jì)

氮化鎵、碳化硅、IGBT半/全橋設(shè)備的設(shè)計(jì)與分析

高壓高帶寬測試應(yīng)用的安全隔離測試

逆變器、UPS及開關(guān)電源的測試

寬電壓、寬帶測試應(yīng)用

各種浮地測試