產品詳情：

型      號：KC3111

功能簡介：KC3111功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(生產端)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發(fā)。脈沖信號源輸出方面，高壓源標配2000V（選配3.5KV）

設備簡介：

KC3111功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(生產端)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發(fā)。脈沖信號源輸出方面，高壓源標配2000V（選配3.5KV）,高流源標配1KA（選配4KA多模塊并聯(lián)）,柵極電壓30V。采用多量程設計架構，各量程下均可保證0.1%精度，具有uΩ級精確測量，pA 級漏電流測量能力。全自動程控軟件，圖型化上位機操作界面。內置開關切換矩陣保證測試效率。模塊化結構設計預留升級擴展?jié)撃?。測試接口可外掛各類夾具和適配器，還能夠通過專用接口連接各種Handler：如分選機、機械手、探針臺、編帶機等。

適用產品

可測Si, SiC, GaN 材料的IGBTs, DIODEs, LED,MOSFETs, BJTs, HEMTs, 電容，光耦等產品的生產測試。

參考標準

IEC 60747-8/9 半導體分立器件第8/9部分/JEDEC標準

設備特點

KC-3111系 統(tǒng) 包 含 ： 硬件平臺 + 實時軟件，可測試靜態(tài)特性、IV 曲線、容阻測試（Rg、Cxss）、CV 曲線；主要特點如下:

量程寬：電壓 2KV/3.5KV；電流 1KA/2KA/3KA/4000A（模塊并聯(lián)）高精度：多量程設計架構，各量程下均可保證 0.1%精度，具有 uΩ級精確測量、pA 級漏電流測量；

高效率：內置開關矩陣，自動切換測量單元，提高生產測試效率；

模塊化：根據測試需求搭配不同規(guī)格測量單元。

在線高低溫箱:選裝-50℃~﹢150℃(最高 200℃)專用高精度實時在線高低溫箱，支持 48 工位和 98 工位。圓形旋轉盤，溫度均勻性優(yōu)秀選配溫控模塊也可與第三方溫箱實現聯(lián)動控制；

具備數據管理功能，上位機可實現數據曲線、報告及自動保存；

IV曲線：2K點以內的 IV 曲線實時掃描；CV曲線：柵電阻 Rg、反向傳輸電容 Cres、輸入電容 Cies、輸出電容 Coes、CV 曲線。

軟件系統(tǒng)

技術參數