Chroma致茂 19501局部放電測試器設備產(chǎn)品特色

·交流高壓輸出&PD量測與主機分離式設計

·內建法規(guī)測試要求的測試方法

·三段電壓測試方法

·PD測量結果數(shù)值顯示(pC)

·PD不良發(fā)生次數(shù)判定設定(1~10)

·USB畫面擷取功能

·圖像化輔助編輯功能

·標準LAN、USB、RS232遠端控制接口

·繁中/簡中/英文操作接口

Chroma致茂 19501局部放電測試器設備可提供交流耐電壓測試(Hipot Test)量測待測物上的漏電(Leakage Current)與電氣閃絡(Flashover)，以及提供局部放電(Partial Discharge,PD)測試量測被測物上局部放電的電荷量(pC)對高壓元件與高耐壓的絕緣材料進行交流耐電壓與局部放電測試，可確保產(chǎn)品的絕緣品質與提升產(chǎn)品的可靠度。

19501的設計符合法規(guī)IEC60270-1對局部放電量測的要求。局部放電量的量測結果以直觀的電荷數(shù)(pC)將測試結果顯示在主機螢幕上。同時也參考了法規(guī)IEC60747與VDE0884的要求，將測試方法設計于儀器內，讓用戶可以更便利的進行操作與設定。

當絕緣體內存在氣泡(Void)或絕緣體間存在氣隙(Air gap)時，在正常工作電壓下，氣泡或氣隙有較高的電場強度可能導致局部放電(PD)發(fā)生。當電源系統(tǒng)的應用元件(譬如:光耦合器、數(shù)位隔離器、IGBT、變壓器、馬達等)長時間發(fā)生持續(xù)性的局部放電，絕緣材料因長時間的劣化導致絕緣失效，進而造成人身安全的問題。因此，法規(guī)建議或要求對元件執(zhí)行局部放電的檢測。例如:IEC60747-5-5要求光耦合器于生產(chǎn)過程中(Routine test)必須100%執(zhí)行局部放電(PD)的檢測，在最大絕緣電壓的條件下不可以發(fā)生超過5pC的局部放電，確保產(chǎn)品在正常的工作電壓下不會發(fā)生局部放電(PD)。

局部放電 Partial Discharge

當絕緣體內存在氣泡(Void)或絕緣體間存在氣隙(Air gap)時，在正常工作電壓下氣泡或氣隙容易發(fā)生局部放電，導致絕緣劣化造成絕緣品質異常，為何局部放電容易發(fā)生在樹酯內的氣泡或漆包線間的氣隙因為空氣的介電系數(shù)較低，氣泡或氣隙的電容量比原絕緣材料低，所以會分到相對高比例的電壓，且在相同間隙距離條件下，氣泡或氣隙的崩潰電壓比絕緣材料的低。此類放電發(fā)生于氣泡或氣隙等局部瑕疵，但與其串列之絕緣材仍維持正常的放電現(xiàn)象稱之為局部放電。

當對被測物施加足夠的測試電壓時，利用局部放電偵測功能量測放電的電荷量(pC)，確認被測物的絕緣材料是否有絕緣品質異常的潛在風險。故施加一個略高于元件最高的額定工作電壓對元件局部放電測試，確保元件長時間在正常工作電壓下的可靠性(無持續(xù)性的局部放電)。

絕緣材料內存在氣泡

Ca:絕緣材料的等效電容(電極之間無氣泡的部分)

Cc:氣泡(Void)的等效電容

Cb:絕緣材料的等效電容(電極之間與氣泡串聯(lián)的部分)